报告人：郭继平，正高级工程师，深圳市计量质量检测研究院技术研发中心主任
时间：2024年11月17日，09:30–10:30
地点：粤海校区光电子研究所多功能厅301
邀请人：何文奇，副教授
摘要：
计量、检测作为国家质量基础设施的重要技术基础，在服务科技创新、产业高质量发展和市场监管发挥着重要的作用。光学测量技术广泛应用于计量检测领域，在传感器计量、精密尺寸测量、在线检测中发挥重要的重要。针对当前检测自动化、数字化、智能化需求，仍有大量的测量技术和装备有待研发突破。围绕光学三维测量、X射线3D智能检测、数字化计量技术开展研究，综合结构光三维测量技术、X射线3D成像技术及几何量量值溯源技术，研究开发了适用于实验室精密测量和在线智能化检测的仪器装备，及对应的量值计量校准方法，实现了在计量检测领域的应用。欢迎各位老师和同学参加!
简介：
郭继平，博士，正高级工程师，国家一级注册计量师，深圳市计量质量检测研究院技术研发中心主任，企业硕士生导师。兼任IEC TC45 /SC 45B注册专家，全国产品几何技术规范标准化技术委员会SAC/TC 240委员，国家产业基础技术专家委员会委员。主要研究领域包括计量检测、光学测量、计算成像、智能传感、数字化计量等方向。主持和参与国家科技部、广东省/深圳市科技计划等各类科研项目16项；发表学术论文15篇，申请专利12项；主持或参与IEC国际标准、国家标准、行业标准等各类标准14项；获2015年、2021年广东省科技进步奖二等奖2项。
